PCT饱和加速寿命试验箱--产品用途
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定
PCT饱和加速寿命试验箱--结构特点
设备特点：
1、最新优化设计，美观大方，做工精细。
2、对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
3、采用7寸真彩式触摸屏，拥有200组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
4、采用高效压力仓，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
5、具有缓解压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
6、多项安全保护措施，故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
7、PCT高压加速老化试验机可根据客户产品定制专用产品架。
规范要求：
1、PCT高压加速老化试验机内胆采用圆弧设计，符合国家安全容器标准，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2、配备双层不锈钢产品架，也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
3、标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，最多可提供55条偏压端子。
4、具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
PCT饱和加速寿命试验箱--符合标准
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏离的高压灭菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB-T2423.34-2012试验ZAD：温度湿度组合循环试验
PCT饱和加速寿命试验箱--规格与技术参数
型号(CM) | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | |
工作室尺寸(Φ*D)mm | Φ300*450 | Φ400*550 | Φ500*650 | Φ750*900 | |
功率 | 3.5(KW) | 4.6(KW) | 5.5(KW) | 8.5KW | |
性能 | 温度范围 | 100℃ ~ 132℃ | |||
温度波动 | ≤±0.5℃ | ||||
温度均匀度 | ≤±2.0℃（恒定时） | ||||
湿度范围 | 100%RH | ||||
压力范围 | A:0 ~ 0.2MPa B:0 ~ 0.3MPa C:0 ~ 0.4MPa | ||||
湿度均匀度 | ≤±3.0%RH（恒定时） | ||||
样品区承重 | 20kg | 20kg | 20kg | 20kg | |
